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芯片測試失效分析可靠性測試

芯片測試失效分析可靠性測試

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 北京軟件產品質量檢測檢驗中心(簡稱:北軟檢測)成立于2002年7月,是經北京市編辦批準,由北京市科學技術委員會和北京市質量技術監督局聯合成立的事業單位。2004年1月,國家質量監督檢驗檢疫總局批準在北軟檢測基礎上籌建國家應用軟件產品質量監督檢驗中心(簡稱:國軟檢測),2004年10月國軟檢測通過驗收并正式獲得授權,成為我國第一個國家級的軟件產品質量監督檢驗機構。
       中心依據國際標準 ISO/IEC 17025:2005《檢測和校準實驗室能力認可準則》和ISO 9001:2015《質量管理體系要求》建立了嚴謹的質量體系,擁有一流的軟件測試平臺,2600平方米的測試場地,1000多臺套的測試設備和上百人的專業測試工程師隊伍。目前具有資質認定計量認證(CMA)、資質認定授權證書(CAL)、實驗室認可證書(CNAS)、檢驗機構認可證書(CNAS)、信息安全風險評估服務資質認證證書(CCRC),信息安全等級保護測評機構(DJCP)、ISO 9001:2015質量管理體系認證、ISO/IEC 27001:2013信息安全管理體系認證等各種資質。
       智能產品檢測實驗室于2015年底實施建設,共360多平方米。擁有20多套智能產品專用檢測儀器與工具。目前有專業檢測人員10余名,能夠依據國際、國內和行業標準實施檢測工作,開展從底層芯片到實際產品,從物理到邏輯的全面的檢測工作,提供芯片預處理、側信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點激光注入等安全檢測服務,同時可開展模擬重現智能產品失效的現象,找出失效原因的失效分析檢測服務,主要包括點針工作站、反應離子刻蝕(RIE)、微漏電偵測系統(EMMI)、X-Ray檢測,缺陷切割觀察系統(FIB系統)等檢測試驗。實現對智能產品質量的評估及分析,為智能裝備產品的芯片、嵌入式軟件以及應用提供質量保證。
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